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fluke熱像儀分分鐘搞定產(chǎn)品熱分析
日期：2012-08-02瀏覽：2755次
fluke熱像儀分分鐘搞定產(chǎn)品熱分析
[研討會簡介] 大部分產(chǎn)品在研發(fā)階段都需要進(jìn)行熱分析，目前紅外熱像檢測是進(jìn)行熱分析zui便捷、的方法；但在實(shí)際使用時(shí)，外殼遮擋、小目標(biāo)、發(fā)射率等問題往往會阻礙紅外熱像儀拍攝準(zhǔn)確、清晰的熱圖；本次技術(shù)交流針對這些難題，提出切實(shí)、有效的解決方案，使客戶能夠準(zhǔn)確、快速地進(jìn)行產(chǎn)品的熱分析工作。福祿克熱像儀，助您輕松搞定產(chǎn)品熱分析。 http://www.chinawebinar.com/lobbyPage.do?eventId=461382&
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 美國BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學(xué)測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設(shè)備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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