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HIOKI發(fā)售三款LCR測試儀，IM3523，IM3533和IM3533-01
日期：2012-08-02瀏覽：2953次
HIOKI發(fā)售三款LCR測試儀，IM3523，IM3533和IM3533-01。適用于電子元器件業(yè)界，用途覆蓋從產(chǎn)線到研發(fā)的各個領(lǐng)域。
應(yīng)用
三款LCR測試儀在以往產(chǎn)品的基礎(chǔ)上又增加了新功能。IM3523在電子元器件生產(chǎn)方面、便捷，IM3533在IM3523的基礎(chǔ)上增加了變壓器測量和線圈感應(yīng)功能。zui后，IM3533-01包含了以上兩款所有功能并在性能上有所突破，增加了更多應(yīng)用于研究開發(fā)領(lǐng)域的功能。
特點(diǎn)
1.大范圍測量頻率、電壓和電流，適用于廣泛領(lǐng)域。
三款測試儀與以往產(chǎn)品相比能更廣泛地測量頻率和信號范圍。這使得儀器在操作上帶來便捷的同時也能讓測量應(yīng)用領(lǐng)域變得更廣。 IM3523
IM3533 IM3533-01 3522-50 （以往型號）
測量頻率 40 Hz 到 200 kHz 1 mHz 到 200 kHz 1 mHz 到 100 kHz
測量電壓 5 mV 到 5 V 普通：5mV到5V
低阻抗高精度模式：5mV到2.5V 10 mV 到 5 V
測量電流 10 mA 到 50 mA 普通：10mA到50mA
低阻抗高精度模式：10mA到100mA 10 mA 到 100 mA
2.改進(jìn)后的基本精度±0.05%
三款測試儀的基本精度是[Z（阻抗值）×測量值]×±0.05％。這點(diǎn)優(yōu)于以往產(chǎn)品（讀數(shù)精度的±0.08%）的性能改進(jìn)保證了更的測量。
*Z（阻抗值）：AC電路中的電阻值。
3.測量效率提高，測量時間是以往時間的一半不到
以往型號需要的測量時間為5 ms，而IM3523完成測量只需要2 ms，大幅提升了測量效率。在產(chǎn)線裝備上使用更加有效率，更短的測量時間可以降低成本。
4.減少未知故障的接觸檢查功能
儀器的接觸檢查功能在測量采樣時可檢測到故障線路和接觸不良，降低了未知故障的風(fēng)險，保證更可靠的測量。
詳細(xì)特點(diǎn)
1.IM3523
（1） 小巧，輕便的設(shè)計能更方便地與產(chǎn)線設(shè)備配合使用。IM3523在安裝體積上比以往產(chǎn)品小約40%，重量輕約20%，這樣有足夠的空間將儀器安裝在產(chǎn)線上或自動測試設(shè)備內(nèi)部。
2.IM3533
IM3533與IM3523相比，增加了以下功能：
（1） IM3533可提供變壓器，線圈的測量，DCR進(jìn)行溫度補(bǔ)償和內(nèi)部DC偏置測量對測量鉭和其他極化電容也有幫助。IM3533能測量某個特定元件，測量范圍更廣。
（2） 觸摸屏提高操作性
The IM3533的觸摸屏提高了操作性能。
3.IM3533-01
IM3533-01在IM3523和IM3533的基礎(chǔ)上又增加了以下功能，特別適用于研究開發(fā)領(lǐng)域。
（1） 掃頻功能，是研發(fā)部門的理想選擇。
IM3533-01的掃頻功能可以讓用戶在特定范圍內(nèi)觀察每個頻率點(diǎn)測量值的變化，對于研發(fā)人員在評估電子元器件的特征時是個有效的工具。測量結(jié)果可通過USB存儲器或其它接口保存在電腦或另外的裝置上，以便對每個頻率點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 美國BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學(xué)測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設(shè)備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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