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KEITHLEY2000萬用表，KEITHLEY2400源表，KEITHLEY3390函數(shù)信號(hào)發(fā)生器用于電路和電子器件實(shí)驗(yàn)
日期：2013-08-09瀏覽：3757次
美國吉時(shí)利KEITHLEY2000萬用表，KEITHLEY2400源表，KEITHLEY3390函數(shù)信號(hào)發(fā)生器用于電路和電子器件實(shí)驗(yàn)。
測量范例一
美國吉時(shí)利KEITHLEY2000萬用表系列高性能、精密 DMM 符合電路和基礎(chǔ)電子實(shí)驗(yàn)電壓、電流和電阻等基礎(chǔ)測量zui常用的測試設(shè)備。美國吉時(shí)利KEITHLEY2100數(shù)字多用表提供 11 種涵蓋zui常用測量參數(shù)的測量功能，包括電壓、電阻、電流和 RTD 溫度測量等標(biāo)準(zhǔn) DMM 功能及 mX+B、dB 和 dBm 等較專業(yè)測量應(yīng)用的數(shù)學(xué)單位。
使用美國吉時(shí)利KEITHLEY2000萬用表，美國吉時(shí)利KEITHLEY2100萬用表進(jìn)行 2 線電阻測量與 4 線電阻測量
歐姆定律指出電路元件兩端的電壓 V 與流經(jīng)電路元件的電流 I 和此元件的電阻 R 的關(guān)系：R = V/I。
2 端 DMM 通過測試線輸出測試電流zui終流入 DMM 的 HI-LO 輸入端子。這種 2 線歐姆系統(tǒng)適合大多數(shù)電阻測量應(yīng)用。然而，測試線的 I-R 壓降會(huì)導(dǎo)致 （RL） 在較低電阻的測量中準(zhǔn)確度明顯降低。
４線歐姆測量或 Kelvin 測量通過將兩條高阻抗電壓感測線引出至未知電阻 RX，從而避開了 RL 兩端的電壓降。由于高輸入阻抗導(dǎo)致感測電路中的電流非常小，因此測試線實(shí)際上沒有 I-R 壓降，而且在兩個(gè)感測端子看到的電壓與 RX 兩端形成的電壓相等。
測量范例二
對(duì)于二極管、晶體管和運(yùn)放等有源器件的測量，美國吉時(shí)利KEITHLEY2400 系列數(shù)字源表美國吉時(shí)利KEITHLEY2602A 型雙通道數(shù)字源表結(jié)合了精密電源、真電流源和 DMM 的功能。美國吉時(shí)利KEITHLEY2600A 系列還包含任意波形發(fā)生器、帶測量功能的電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載和觸發(fā)控制器?？蓪⒃礈y量單元用作電壓表、電流表、歐姆表、電源或源負(fù)載以測量電壓、電流、電阻以及I-V特性分析和曲線跟蹤。
源測量單元或 SMU 能用作獨(dú)立的恒壓源或恒流源并用作單獨(dú)的電壓表或電流表。然而，SMU 的真正優(yōu)勢在于同時(shí)進(jìn)行源和測量——例如在電阻測量中，對(duì)被測器件（負(fù)載）施加電壓并測量負(fù)載上通過的電流，或著對(duì)負(fù)載提供電流并測量負(fù)載兩端的壓降。
SMU 是 I-V 特性分析測試的核心儀器，例如探測二極管和晶體管的基本原理。SMU 能讓您測量二極管的正向電壓、反向漏電和反向擊穿電壓。兩臺(tái) SMU 結(jié)合使用就讓學(xué)生理解晶體管的原理，例如進(jìn)行閾值電壓、β 和跨導(dǎo)參數(shù)測試以及產(chǎn)生半導(dǎo)體曲線族。
測量范例三
美國吉時(shí)利KEITHLEY3390函數(shù)信號(hào)發(fā)生器用直接數(shù)字頻率合成（DDS）技術(shù)實(shí)現(xiàn)高性能 50MHz 任意波形/函數(shù)發(fā)生器產(chǎn)生特殊波形和基本無線電載波和調(diào)制。
KiWAVE 軟件—— 此波形應(yīng)用軟件允許學(xué)生創(chuàng)建正弦波、方波、斜波、脈沖和噪聲等標(biāo)準(zhǔn)波形以及管理波形存儲(chǔ)器。KiWAVE 能讓用戶查看真實(shí)單元中的波形并進(jìn)行編輯。然后，波形能上載到吉時(shí)利的任意波形/函數(shù)發(fā)生器中。
KiWAVE 波形發(fā)生軟件產(chǎn)生一個(gè)簡單同步波形
同步波形圖 阻尼波形圖
噪聲波形圖 心電波形圖
AM 調(diào)制波形圖 FM 調(diào)制波形圖
頻移鍵控波形圖 脈沖寬度調(diào)制波形圖
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 美國BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設(shè)備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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