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美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY太陽(yáng)能電池I-V和C-V特性分析方案

日期：2013-08-05瀏覽：3358次

堅(jiān)融實(shí)業(yè)專業(yè)應(yīng)用工程師為您的太陽(yáng)能（光電）測(cè)量提供：美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY太陽(yáng)能電池I-V和C-V特性分析方案，避免了集成分立設(shè)備或?qū)憦?fù)雜程序的麻煩。

各種太陽(yáng)能電池（光電）技術(shù)的電特性，包括：
單晶硅
多晶硅
無(wú)定形硅
CIGS
CdTe
有機(jī)聚合物

關(guān)鍵參數(shù)的測(cè)量包括：
開(kāi)路電壓（Voc）
短路電流（Isc）
在Pmax上的電壓（Vmax）
填充因子（ff）
串聯(lián)電阻（Rs）
轉(zhuǎn)換效率（η）
摻雜密度（N）
旁路電阻（Rsh）
zui大輸出功率（Pmax）
電池電阻率
缺陷密度

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)
具有直觀GUI的全集成IV和CV turn-key解決方案
用于提取關(guān)鍵單元參數(shù)的內(nèi)建庫(kù)以及先進(jìn)的分析和公式化工具
4象限工作（源/阱）
1A @ 20V
100mA @ 200V
電容電壓（CV）選項(xiàng)
“交鑰匙”方案帶內(nèi)建軟件用于全部數(shù)據(jù)分析和電池參數(shù)計(jì)算
結(jié)合707a開(kāi)關(guān)矩陣用于多電池測(cè)試

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2602B數(shù)字源表
4象限工作（源/阱）
集精密電源、高精度DMM和電子負(fù)載于一體的IV特征分析一站式解決方案
雙通道
3A @ 6V
10A @ 20V
1A @ 20V
內(nèi)建TSP Express軟件用于快捷的I-V測(cè)試
ACS基礎(chǔ)版軟件選件帶預(yù)置太陽(yáng)能方案

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2440或美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2425數(shù)字源表
4象限工作（源/阱）
集精密電源、高精度DMM和電子負(fù)載于一體的IV特征分析一站式解決方案
@ 10V（2440型）
3A @ 20V（2425型）
1A @ 100V（2425型）
內(nèi)建掃描函數(shù)以便于I-V性能測(cè)試
提供6種不同模型用于寬范圍I-V測(cè)試要求
結(jié)合美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY7001型或美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY7002型開(kāi)關(guān)主機(jī)用于多電池測(cè)試

太陽(yáng)能電池的關(guān)鍵參數(shù)和測(cè)量技術(shù)：
太陽(yáng)能電池的典型正向偏壓I-V特性
結(jié)晶硅太陽(yáng)能電池的摻雜密度（N）可以由電容-電壓掃描來(lái)確定
太陽(yáng)能電池的旁路電阻可以根據(jù) 反相偏壓I-V掃描估算。
串聯(lián)電阻（Rs）可以由太陽(yáng)能電池在多種光強(qiáng)的正向I-V掃描來(lái)確定。

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